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期刊采用电编程熔丝调节芯片参数的测试流程
《电子技术与软件工程》2017年第7期108-108,共1页王帆 
利用电子的迁移特性可以生成一种微小的熔丝结构,这种熔丝结构称为电编程熔丝eFUSE,可以在芯片上编程。为了提高芯片测试的准确性并降低测试成本,eFUSE被广泛的用于芯片的设计中,用来调整芯片的各项参数。本文主要介绍了一种采用eFUSE...显示全部
关键词:电编程熔丝 参数调节 测试流程 
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